(75€ Warenwert ... 9959&9958

Ach, dann war das einer der beiden anderen Umschläge die Bob auf die Reise gebracht hat
So wie ich das sehe, testet der Tauntek-Tester nur die statische Spannung am Pin bei High- oder Low-Pegel oder High-Z. Die Hysterese eines Eingangs kann das Gerät nicht testen. Was auch immer mit "Leckage Timing" oder "clock tests" gemeint ist - im Grunde testet das Ding nur die Wahrheitstabelle des Logik-IC durch und fertig. Der einzige Unterschied ist die Messung der Stromaufnahme.benedienst hat geschrieben: ↑31 Mär 2022, 18:02 Der Tauntek macht da ja nicht einfach nur truthtable sondern auch Stromaufname, Pegel und hysteresetests, Leckage timing und clock tests.
Das heißt für mich, dass man zwar theoretisch mehr machen könnte, dass das aber nicht implementiert ist.http://www.tauntek.com/ctuserman.pdf hat geschrieben: There are many tests that could be used to evaluate/characterize an IC. Input current or voltage
thresholds for high and low states could be measured. Output voltage level while sourcing or sinking specific
amounts of current could also be measured. Propagation delay from input or clock to output could be measured.
While it is possible to design circuitry to measure all of these parameters (and more), one assumption of this
project is that many non-working chips exhibit gross failures involving input or output pins, which can be
detected with a few simple tests. Of course, this may not always be the case.
Sorry, da sind mir Satzleichen beim neu schreiben übrig geblieben.
Die leiche mit "timing und clock tests" bezog sich auf:The unit will next apply resistor voltage dividers to all inputs and outputs (more on this later) and will
check the voltages on inputs. In general, the inputs should be at roughly 2.5V due to the voltage dividers. Any
input that is not close to this value will be reported. This test can reveal inputs that are either leaky or shorted to
one of the supply rails. Performing the input test first helps to prevent damage to the tester, as it keeps the tester
from trying to drive an input that is shorted to ground or 5V. If the input test passed, and a bipolar part is being
tested, a second input test will be performed with only pulldowns applied. This can detect pins that are not
making a good connection to the ZIF socket
was aber obsolet ist. Ein IC tester der bei getakteten Bausteinen nicht auf die Flankensensibilität testet macht keinen sinn.Clock inputs are shown as either I, (inactive) P, (positive
pulse) or N (negative pulse)